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USB转SATA接口转接板(新一代主控兼容性更强)
详硕1153E 桥接芯片 3.0接口 带单独开关 防短路 兼容性强,单独加贴二极管防止倒灌电流,可用于SSD 量产开卡 接上硬盘可当移动硬盘使用

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USB转NVME PCIE M.2 NGFF接口转接板
JM583桥接芯片 USB3.0接口 带独立开关 防短路 兼容性强,单独加贴二极管防止电流倒灌,3.3V 4A电流,可用于NVME SSD开卡 量产测试 接上硬盘可当移动硬盘使用

¥1,800.00
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一端口智能AC控制设备
1、支持随机断电测试。2、断电时间自由设置3、断电模式可随机可受控4、 断电次数自动记录,直接显示5、受控断电模式可以保留报错的瞬间,方便Debug6、全部采用工业级要求设计

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高精度 SSD RDT高温测试柜
此设备广泛应用于PCB电路板、电源电子、电脑产品、通讯、生物制药、仪器仪表,航天材料、汽车部件、橡塑轮胎、太阳能逆变器等领域产品的模拟在高温环境下的老化筛选试验

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博伽多功能测试电脑
博伽多功能电脑集对比、拷贝功能于一体,一机多用,拥有32个USB 3.0接口,支持主流的USB 3.0接口,向下兼容USB 2.0,支持热插拔,充分满足主流测试需求,达到提高效率,节省终端成本的目的。

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DDR5 内存条SPD烧录器
编程功能 1、可选区块保护 2、自动设置产品序列号 3、自动设置生产日期 4、自动烧录校验拷贝一体功能 产品保修:一年保修,终身技术支持。

¥988.00
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PCIE开卡器 3.0 4.0 HUB 4 port
DC 5V 2A-3A 支持电脑大4PIN 电源输入口,PCIE port 支持自动精准定位,PCIE port 连接口独立分开轻松固定开卡与更换不影响主板,PCIE port 对应独立指示灯,PCIE port 对应独立电源开关

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可程式高低温 SSD BIT老化试验箱
此设备可用于SSD固态硬盘批量性进行高/低温湿度老化测试,或用于PCB电路板、各类材料、电子产品等进行高低温湿度老化测试。

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常温BIT测试老化柜
设备可用于SSD固态硬盘进行批量性老化测试,电脑采用市场主流配置,单柜可同时测试48个产品,提升测试效率,整机美观大方,提升公司形象。(图片产品已配置了电脑,可接受客户提供电脑安装。)