主要用于SSD成品研发、验证、抽查测试。

此设备用于PCB电路板、各类材料、电子产品等进行高低温老化测试，可加速老化寿命试验的目的缩短产品或系统的寿命试验时间，测试其封装引脚、金属区域、芯片质量的可靠性。此设备可同时进行高温BIT测试、高低温交替BIT测试试验。